Testsysteme
Zur Überprüfung der Qualität von produzierten Leistungshalbleitern oder Dioden sowie zur vollautomatischen Durchführung von komplexen Messaufgaben werden Messautomaten bzw. Testsysteme eingesetzt. MRS bietet eine Vielzahl an unterschiedlichsten Testsystemen an, mit denen elektrische Module, Komponenten und Maschinen auf Stromfluss und Spannung getestet und gemessen werden können. Zu den Leistungen gehören dabei sowohl die individuelle Entwicklung von Systemen ganz nach Kundenanforderungen als auch die weltweite Inbetriebnahme der fertigen Anlagen vor Ort.
Testsysteme für Leistungshalbleiter
Ob große automatisierte Testsysteme, die in der Produktionsstraße eingebunden sind oder kleine Systeme für Kleinserien oder Kleinteile für den Schreibtisch. Je nach Größe oder Funktionsbedarf erstellt MRS individuelle Testsysteme auch mit mechanischer Kennzeichnung, Lasermarkierung oder mit Inkjet-Markierung.
Was wird getestet?
- IGBT-Module, FET-Module, Dioden
- Chips aus Si, SiC und GaN
- Und vieles mehr
- -100V bis +100V bei max. +/- 100mA
- -2000V bis +2000V bei max. +/-10mA
- Ströme bis max. 1000A uni/bidirectional
- Leckströme im 10µA-Messbereich (Auflösung 0,33nA)
- Multiplexer über HV/Hochstrom Relais nach Kundenwünschen
Tester für unterschiedliche Anforderungen
Je umfangreicher und komplexer die Produktionsanlage, desto anspruchsvoller sind Anforderungen an heutige Testsysteme. MRS bietet seinen Kunden Testsysteme für verschiedene Einsatzbereiche, immer mit der Option der individuellen Anpassungsmöglichkeit.
Testsysteme
- VZ Temp. Kompensiert
- IR/dir Temp. Kompensiert
- VF (MA)
- VF (Power)
- dVf (ZHT)
- Temperatur
- ...
- Bunker
- Feeder
- Headwire Begradiger Station
- Schneidestation
- Messen der Schnittlänge
- Messstation
- Markier Station
- Gut/Abfallsortierung
- ...
- Vz Temp. kompensiert
- IR / DIR (mit Ableitstrom Kompensation)
- Vf (mA)
- Chipfactor
- dVf (laden)
- Temperatur
- ...
- Mit austauschbarem Adapter-System
- Kennzeichnung
- Gut / Schlecht Differenzierung
- Abfallbehälter mit Sensor
- ...
- VSD-Diode
- BVDSS
- VDS
- IDSs (vorwärts/rückwärts) mit Ableitstromkompensation
- DIDSS (vorwärts/rückwärts) mit Ableitstromkompensation
- IGSS/Ausgrabungen
- VGSTH
- RDSON
- ZTH, ZTH Loop
- C-Kondensator
- R-Widerstand
- R-Shunt
- Temperatur
- ...
- VSD-Diode
- VCE, VCESAT
- ICES (vorwärts/rückwärts) mit Ableitstromkompensation
- IGES/DIGES
- VGSTH
- ZTH, ZTH Loop
- C-Kondensator
- R-Widerstand
- R-Shunt
- Temperatur
- ...
- Eine sehr geringe Streuinduktion des gesamten Systems
- Exakte Datenprotokollierung mit der höchstmöglichen Auflösung zur Analyse der Messergebnisse wie:
- du / dt-Wert
- di / dt-Wert
- Schaltzeiten
- Klemmspannung
- Spitzenspannungen
- Kollektorstrom
- Gate-Spannung
- Vollständige Rückverfolgbarkeit jedes Prüflings zur späteren Analyse werden die Messdaten in Datenbanken mit Upload in das Firmennetzwerk gespeichert.
- Beispiel Kontakteinheit 1200 V / 2000 A RBSOA & 1200 V / 8000 A SCSOA mit Kurzschluss Erkennungsoption
- In einer vollautomatisierten Schichtbetrieb-Produktionslinie
- Messgeräte für jedes Produkt angepasst, um die größtmögliche Auflösung zu erhalten
- Individueller DC-Link für jeden Prüfling, um ESL zu minimieren
- Individuelle Gatedrive Stage
- Kontakt-Kontrolleinheit, um sicherzustellen, dass der Prüfling richtig angeschlossen ist, bevor Sie Hochspannung angelegt wird
- Signal Multiplexer für DUTs in Halbbrückenkonfiguration um Geld und Platz zu sparen anstatt ein zweites Oszilloskop zu verwenden
- Kurzschlusserkennungsoption zur Vermeidung einer unkontrollierten Entladung der DC-Verbindung in das System während eines möglichen Fehlers eines Prüflings, der das Schweißen des Prüflings und unnötige Wartungsarbeiten an einer Kontakteinheit überflüssig macht.
- Industrie-PC zur Steuerung der Anlage und Protokollierung der Daten.
- Testsystem arbeitet 72h PC-unabhängig (bei PC-Shutdown).
- Hochspannungsnetzteile
- Ein Standard-Messgerät zur Überwachung von Strom und Spannung.
- Ein speziell entwickeltes Sicherheitssystem.
- 4x Temperaturregler.
- Separates Heizen und Kühlen für die 4x DUTs.
- VSD-Diode
- BVDSS
- IDSS (vorwärts/rückwärts) mit Ableitstromkompensation
- DIDSS (vorwärts/rückwärts) mit Ableitstromkompensation
- IGSS / DIGSS
- VGSTH
- RDSON
- ZTH, ZTH-Schleife
- C-Kondensator
- R-Widerstand
- R-Shunt
- …
- Industrie-PC zur Steuerung des Systems und zur Aufzeichnung der Daten
- Die Hochspannungsversorgung
- Ein Standard-Oszilloskop zur Überwachung von Strom und Spannung
- Multiplexer, um jedes DUT auf das Scope zu schalten für
- V-Messung
- Strombegrenzung für jedes DUT
- Getrennte Kontaktierung für die 80 Prüflinge in einer Heizkammer bis 260°C
- Individuelle Spannungs- und Stromklassifizierung je nach Kundenspezifikation.
- Zyklusmuster sind vom Kunden programmierbar.
- Kontakteinheiten werden individuell für jedes zu prüfende Produkt ausgelegt.
- Parametertests sind möglich
- DVf-Messung
- Testzeit bis zu 1000 Stunden
- Kühler für Wasserkühlung
- 10 Kühlkörper (Wasser gekühlt) für 10 Halbbrückenprüflinge
- 10 Temperaturmesspunkte Typ-K
- VSD-Diode
- BVDSS
- IDSS (vorwärts/rückwärts) mit Ableitstromkompensation
- DIDSS (vorwärts/rückwärts) mit Ableitstromkompensation
- IGSS / DIGSS
- VGSTH
- RDSON
- ZTH, ZTH-Schleife
- C-Kondensator
- R-Widerstand
- R-Shunt
- …
Vorteile der MRS Testsysteme

Knowhow und Erfahrung
MRS verfügt über Jahrzehnte lange Erfahrung im Prüfen von Leistungshalbleitern.

Individuelle Testysteme
Da alle Bestandteile von MRS-Systemen modular aufgebaut sind, können individuelle Systeme flexibel und ganz nach Kundenanforderungen erstellt werden.

Weltweite Testsysteme
Langjährige Zusammenarbeit mit weltweiten namenhaften Kunden aus den verschiedensten Branchen.

Made in Germany
Moderne Fertigungstechnologien sowie anerkannte Qualitätsstandards – MRS entwickelt und produziert in Deutschland.

Maschinenrichtline
Die MRS Prüfsysteme entsprechen dem CE-Standard und werden gemäß der Spezifikation der Maschinenrichtlinie 2006 / 42 / EG gebaut: DIN EN 60204, DIN EN ISO 12100, DIN EN ISO 13849.




Maschinenrichtline
Die MRS Prüfsysteme entsprechen dem CE-Standard und werden gemäß der Spezifikation der Maschinenrichtlinie 2006 / 42 / EG gebaut: DIN EN 60204, DIN EN ISO 12100, DIN EN ISO 13849.




Maschinenrichtline
Die MRS Prüfsysteme entsprechen dem CE-Standard und werden gemäß der Spezifikation der Maschinenrichtlinie 2006 / 42 / EG gebaut: DIN EN 60204, DIN EN ISO 12100, DIN EN ISO 13849.
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