Testsysteme

Messung aller Parameter der FET´s auf den Modulen wie z. B. 

• Kontaktprüfung
• VSD-Diode
• BVDSS
• IDSS und DIDSS (vorwärts/rückwärts) mit Ableitstromkompensation
• IGSS/DIGSS
• VGSTH
• RDSON
• ZTH, ZTH Loop
• C-Kondensator
• R-Widerstand, R-Shunt

Integrierte Avalanche-Tests (Avalanche-Test mit VBAT max. 90 VDC). Integration in ein vollautomatisches Handhabungssystem.

Messung aller Parameter der IGBT´s auf dem Modul (bis zu 1000 A) wie z. B.

• Kontaktprüfung
• VSD-Diode
• VCE, VCESAT
• ICES (vorwärts/rückwärts) mit Ableitstromkompensation
• IGES/DIGES
• VGSTH
• ZTH, ZTH Loop
• C-Kondensator
• R-Widerstand, R-Shunt

Integration in ein vollautomatisches Handhabungssystem.

Steuerung der Messeinheit und genaue Datenaufzeichnung mit höchstmöglicher Auflösung. Einbindung externer Oszilloskope zur Analyse der Messergebnisse wie: du / dt-Wert, di / dt-Wert, Schaltzeiten, Klemmspannung, Spitzenspannungen, Kollektorstrom, Gate-Spannung.
Vollständige Rückverfolgbarkeit jedes Prüflings für die spätere Analyse, Speicherung der Messdaten in Datenbanken mit Upload in das Firmennetzwerk, falls erforderlich.

Messeinheit bis zu 1500 V / 4000 A RBSOA und 1500 V / 12000 A SCSOA.

• Für jedes Produkt angepasste Messgeräte, um die höchstmögliche Auflösung zu erreichen.
• Maßgeschneiderter DC-Link für jeden Prüfling zur Minimierung von ESL.
• Individuelle Gatedrive-Stufe.
• Kontaktprüfeinheit, um sicherzustellen, dass der Prüfling richtig angeschlossen ist, bevor die Hochspannung angelegt wird.
• Option zur Kurzschlusserkennung, um eine unkontrollierte Entladung des Zwischenkreises in das System bei einem Prüflingsausfall zu verhindern.
• Sehr geringe Streuinduktion des gesamten Systems, da es sonst nur schaltet, ohne während des Schaltens wirklich belastet zu werden.
• Integriert in eine vollautomatische Produktionslinie im Schichtbetrieb.

Ein sehr kompaktes Testsystem zur Durchführung von Hochtemperatur-Reverse-Bias-Tests, das in der Lage ist, 4x DUTs mit bis zu +/- 6500 V bei max. 200 °C zu testen. 

• Das Testsystem arbeitet 72 Stunden lang unabhängig vom PC (im Falle eines PC-Shutdowns)
• Hochspannungsnetzteile
• Ein Standardmessgerät zur Überwachung von Strom und Spannung
• 4x Temperaturregler.
• Separates Heizen und Kühlen für jeden Prüfling

Kleinserienfertigung ZTH Test-System mit 150 A. Prüfung aller Parameter eines FET-Moduls wie z. B.:

• Kontaktprüfung
• VSD-Diode
• BVDSS
• IDSS und DIDSS (vorwärts/rückwärts) mit Ableitstromkompensation
• IGSS / DIGSS
• VGSTH
• RDSON
• ZTH, ZTH-Schleife
• C-Kondensator
• R-Widerstand, R-Shunt

Die Prüflinge werden für eine bestimmte Zeit (100 h - 1000 h) zyklisch getestet, die meiste Zeit unter hoher Temperatur in einer Heizkammer. Verschiedene JEDEC-Normen definieren den individuellen Test für jeden Prüfling, der von der Hardware und Software interpretiert wird. Der gesamte Test wird von Analysetools interpretiert. Das System besteht aus den folgenden Komponenten:

• Hochspannungsversorgungen und ein Standard-Oszilloskop zur Überwachung von Strom und Spannung
• Multiplexer zur Umschaltung jedes Prüflings auf das Oszilloskop für die V-Messung
• Strombegrenzung für jeden Prüfling
• Getrennte Kontaktierung für die 80 Prüflinge in einer Heizkammer bis 260 °C

Gleichrichterdioden (Prüflinge) werden mit Hochstromimpulsen (bis zu 200 A) gestresst, während die Vorwärtsspannung zur Bestimmung der internen Temperatur überwacht wird. Anschließend wird die Gleichrichterdiode auf einen bestimmten Vorwärtsspannungs-Startwert abgekühlt und die Prüfung wiederholt. Jede der 16 unabhängigen Prüfpositionen läuft über 500 Stunden lang mit programmierbaren Zyklen und Abkühlphasen.

• Benutzerdefinierte Spannungs- und Stromklassifizierung nach Kundenvorgaben
• Programmierbare Zyklusmuster
• Unabhängige Prüfpositionen für parallele Prüfungen