Testsysteme

RBSOA / SCSOA Prüfung Je nach Qualitätsstandard bei der Herstellung verschiedener IGBT-und MOSFET-Modultypen wird ein RBSOA-und SCSOA-Test durchgeführt. Die Systempalette reicht von Stand-Alone-Laborsystemen mit manueller Fütterung bis hin zur Bewertung von DUTs während des Entwicklungsprozesses bis hin zu voll automatisierten Schichtbetrieb-Produktionslinien. Für RBSOA-und SCSOA-Tests ist es wichtig, dass der Prüfling während des Schaltens einen echten Belastungstest durchläuft und der Prüfling nicht nur ein-und ausgeschaltet wird. Um einen echten Belastungstest zu erreichen, müssen mehrere Kriterien erfüllt sein, wie

• Eine sehr geringe Streuinduktion des gesamten Systems
• Exakte Datenprotokollierung mit der höchstmöglichen Auflösung zur Analyse der Messergebnisse wie:
  • du / dt-Wert
  • di / dt-Wert
  • Schaltzeiten
  • Klemmspannung
  • Spitzenspannungen
  • Kollektorstrom
  • Gate-Spannung
• Vollständige Rückverfolgbarkeit jedes Prüflings zur späteren Analyse werden die Messdaten in Datenbanken mit Upload in das Firmennetzwerk gespeichert.
• Beispiel Kontakteinheit 1200 V / 2000 A RBSOA & 1200 V / 8000 A SCSOA mit Kurzschluss Erkennungsoption
• In einer vollautomatisierten Schichtbetrieb-Produktionslinie

Vorteile:

• Messgeräte für jedes Produkt angepasst, um die größtmögliche Auflösung zu erhalten
• Individueller DC-Link für jeden Prüfling, um ESL zu minimieren
• Individuelle Gatedrive Stage
• Kontakt-Kontrolleinheit, um sicherzustellen, dass der Prüfling richtig angeschlossen ist, bevor die Hochspannung angelegt wird
• Signal Multiplexer für DUTs in Halbbrückenkonfiguration, um Geld und Platz zu sparen anstatt ein zweites Oszilloskop zu verwenden
• Kurzschlusserkennungsoption zur Vermeidung einer unkontrollierten Entladung der DC-Verbindung in das System während eines möglichen Fehlers eines Prüflings, der das Schweißen des Prüflings und unnötige Wartungsarbeiten an einer Kontakteinheit überflüssig macht.

Für den High Temperature Reverse Bias Tester haben wir ein sehr kompaktes Testsystem entwickelt. Das System ist in der Lage, 4x DUTs mit bis zu +/-6500 V und 200 °C zu testen. Das System besteht aus:

• Industrie-PC zur Steuerung der Anlage und Protokollierung der Daten.
• Testsystem arbeitet 72h PC-unabhängig (bei PC-Shutdown).
• Hochspannungsnetzteile
• Ein Standard-Messgerät zur Überwachung von Strom und Spannung.
• Ein speziell entwickeltes Sicherheitssystem.
• 4x Temperaturregler.
• Separates Heizen und Kühlen für die 4x DUTs.

Für eine kontinuierliche Qualitätskontrolle bei der Herstellung verschiedener elektronischer Halbleiter werden HTOL-Tests durchgeführt. Die Prüflinge werden für eine bestimmte Zeit (100h -1000h), meist unter hoher Temperatur in einer Heizkammer, getestet. Verschiedene JEDEC-Standards definieren den individuellen Test für jedes DUT, der von der Hardware und Software interpretiert wird. Der gesamte Test wird von Analysetools interpretiert. Das System besteht aus den folgenden Komponenten:

• Industrie-PC zur Steuerung des Systems und zur Aufzeichnung der Daten
• Die Hochspannungsversorgung
• Ein Standard-Oszilloskop zur Überwachung von Strom und Spannung
• Multiplexer, um jedes DUT auf das Scope zu schalten für
• V-Messung
• Strombegrenzung für jedes DUT
• Getrennte Kontaktierung für die 80 Prüflinge in einer Heizkammer bis 260°C

Kleinserienfertigung ZTH Test-System 150 A und alle Parameter eines FET oder FET-Moduls

• VSD-Diode
• BVDSS
• IDSS (vorwärts/rückwärts) mit Ableitstromkompensation
• DIDSS (vorwärts/rückwärts) mit Ableitstromkompensation
• IGSS / DIGSS
• VGSTH
• RDSON
• ZTH, ZTH-Schleife
• C-Kondensator
• R-Widerstand
• R-Shunt
• …

Inklusive manueller Kontaktierstation.